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烟包可变二维码喷印质量差?原因为何?怎么破?

时间:2022-03-10 08:32:13来源:科印网作者:欧立国
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  固有图形污损偏低的原因分析

  固有图形污损是衡量寻像图形、空白区、定位图形、校正图形以及其他固有图形的污损情况是否严重影响参考译码算法对视场中探测和识读符号能力的参数。这种污损是由于一个或多个模块由深到浅或由浅到深的反转造成的。这些需考虑的特殊图形以及和各种等级阈值对应的污损量大小,应参考具体码制规范的规定。

  固有图形污损的评价基于在参考灰度图像中这类图形(或图形中的一部分)出现的模块错误(即模块的颜色是否有反转错误)数。符号一般包含若干个此类明显的图形(如寻像图形、定位图形等)。

  对每种图形的评价应分别进行,其中最差的值用于分级。为准确掌握影响该指标因素,我们采集了所测样品中固有图形污损等级分别为4A(见图2)与0F(见图3)的样品进行对比分析。

图2 固有图形污损4A级别样品

图3 固有图形污损0F级别样品

  从图3左可以看到,标准二维码图形设计为四周保留4个单位的空白区距离。显然,此图中红色报警点示意此处空白区空间不足,被系统识别为污损状态,因为污损点数量较多,等级判定为0F。

  另外,从图3右上可以明显看到至少两类缺陷,一是码字边缘有严重的墨迹拖尾现象,这些墨迹渗透到空白码区域,被系统识别为污损状态;二是二维码中间有明显的墨滴飞墨的情况,留在空白位置形成污损点,两类缺陷综合评价后导致图形污损等级为0F。

  通过统计,导致图形污损等级偏低的二维码样品基本涵盖这两种情况,仅严重程度不同而已。

  03

  调制比偏低的原因分析

  调制比(MOD)是反映深色模块或浅色模块反射率一致性的参数。印刷增量、相对于网格交叉点模块位置的错误摆放、印刷基底的光学特征以及印刷的不均匀度,都会降低模块反射率与整体阈值之差的绝对值,即MOD=2[R-GT]/SC。其中,MOD为调制比,R为在一个码子中最接近整体阈值的模块的反射率,SC为符号反差。如果调制比不足,会增加错误辨别深色或浅色模块的可能性。调制比分级见表4。

表4 调制比分级

  为准确掌握影响该指标的因素,我们采集所测样品中调制比等级分别为4A(见图4)与0F(见图5)的样品进行对比分析。

图4 调制比4A级别样品

图5 调制比0F级别样品

  在寻找调制比等级偏低的样品时发现,影响调制比等级的类型较影响图形污损等级的类型多,上图仅列举两种常见的情况,图5左中的二维码码字墨层明显偏重,墨迹扩散到码字周围的空白区域,导致空白区的反射率均匀性受到严重影响。

  相反,图5右中的二维码码字墨层明显偏虚,墨迹断断续续,黑白反差率同样被严重破坏,最终导致调制比等级低。当然,还有少数样品表现为二维码尺寸过小而版本过高所导致的码字太密情况,以及二维码喷印过程中出现糊版、拉线等问题,但上述两类极端缺陷在所有调制比等级偏低类型中最具代表性。


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